طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF) یا (X-ray Fluorescence Spectroscopy) یا طیف‌سنجی پرتو ایکس یکی از روش های آنالیز عنصری است که از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می شود. این روش، به ویژه به علت سرعت زیاد در شناسایی عنصری، برای برخی از صنایع، ضروری است. در این روش، پرتو ایکس به نمونه مجهول تابیده و در اثر برانگیختن اتم‌ها باعث پدید آمدن پرتو ایکس ثانویه می شود. سپس با تعیین طول موج (روش WDS) یا انرژی پرتو ایکس ثانویه (روش EDS)، عنصر یا عناصر مورد نظر را می‌توان شناسایی کرد. دستگاهNITON XL3t برای کاربردهایی که آنالیز سریع و حد تشخیص کم نیاز است، مناسب است.مزیت فوق العاده این دستگاه دتکتور دریفت سیلیکونی 45 mm2 است که از لحاظ حساسیت و زمان اندازه گیری بیش از 10 برابر سریع تراز دتکتورهای مرسوم SI-PIN و سه برابر دقیق تر از دتکتورهای دریفت سیلیکونی مرسوم کار می کند. با وجود آنالیز سریع تر، دقت بالاتر و توانایی در اندازه گیری عناصر سبک بدون هلیم و با کمک خلا، این ابزار برای کاربردهای زیر مناسب است: صنعت نفت و گاز و معدن